
AM-360 光學(xué)元件光譜分選儀
AM-360 光學(xué)元件光譜分選儀是平⾯光學(xué)元件多點多⻆度透/反射率⾃動檢測設(shè)備。可以根據(jù)每種樣品⾃定義設(shè)置的測試板進⾏多⻆度透過、反射、偏光等批量測試,⼀次性完成全部測試;樣品載運平臺載運速度快,精度⾼,⾼速實現(xiàn)樣品多點多⻆度的透/反射率檢測,還可對結(jié)果進⾏快速質(zhì)檢和分級,極⼤提⾼檢測效率。
儀器特點
1. ⽀持小樣品檢測;
2. ⽀持偏振光測量;
3. 可⾃定義測量位置;
4. 快速、⽆損、⾃動檢測;
5. ⽀持陣列式或⼤樣品分點全檢;
6. 料盤尺⼨可定制 ;
7. ⽀持測量絕對反射率、相對反射率、絕對透過率、相對 透過率;
8. ⼀鍵測量出結(jié)果,可定制報表輸出格式。
測量對象
技術(shù)參數(shù)
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